| Статус: | Действующий |
| Название на русском языке: |
Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей |
| Название на английском языке: |
Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature |
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции |
| Дата издания: | 01.02.1985 |
| Дата введения в действие: | 01.07.1981 |
| Дата последнего изменения: | 18.05.2011 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Количество страниц: | 11 |
| Список изменений: | №1 от 01.07.1985 (рег. 13.03.1985) «Срок действия продлен»
|
