| Статус: | Действующий |
| Название на русском языке: |
Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы определения фосфора |
| Название на английском языке: |
Semiconductor selicon, raw materials for its production and quartz. Methods of phosphorus determination |
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает экстракционно-фотометрический метод определения фосфора в техническом кремнии, экстракционно-колориметрический метод определения фосфора в трихлорсилане и тетрахлориде кремния и двуокиси кремния (синтетическом кварце); нейтронно-активационный метод определения фосфора в полупроводниковом кремнии |
| Дата издания: | 21.01.1985 |
| Дата введения в действие: | 01.01.1986 |
| Дата последнего изменения: | 18.05.2011 |
| Количество страниц: | 17 |
| Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 26.06.1990) «Срок действия продлен»
|
